MV.C VNIR 机器视觉高光谱成像系统


MV.C VNIR 机器视觉高光谱成像系统是美国 Headwall 公司在收购荷兰 perClas s公司后,结合自身多年在 Offner 高光谱成像仪设计制造技术优势和 perClas s在高光谱机器学习算法和应用软件开发优势而研制的一套Turnkey机器视觉高光谱数据采集和分析平台。


用MV.C VNIR 工作的光谱范围为 400-1000nm ,340个光谱波段,1020 个空间像素,最⼤帧率可达到 300Hz 。MV.C VNIR 系统配备有⻧素灯光源的 perClass Stage 推扫平台,安装拆卸简易,方便携带。用户可根据不同应用场景,在实验室快速搭建整套系统。通过配套的 perClass mira 数据采集和分析软件,直接控制推扫平台的移动和⾼光谱成像仪的数据采集操作。已采集的样本数据可⽅便划分为训练集和测试集,利用 perClass mira 软件中的光谱分类和回归分析功能进行建模,生成的模型可直接用于数据的实时在线分析。

关于机器视觉高光谱技术的应用可点击以下视频了解:

高光谱实时分类技术在机器视觉中的应用与发展

https://www.bilibili.com/video/BV1yk4y1s7RM/?vd_source=c76589e1835a8fd6a8b6c0fcb5525585


主要特点:

       Turn-Key 解决方案,无需复杂的平台搭建

       Headwall Offner 全息凸面反射光栅分光技术

       交互式模型训练训练软件,无需专业背景知识

       兼容perClass Mira软件,可直接控制硬件数据采集

      支持载入自定义模型,实时在线分类



基本参数:

光谱范围 400-1000nm
空间像素数 1020
光谱通道数 340
光谱采样率 1.75nm/pixel
数值孔径 F/2.5
光学设计
Offner全息反射光栅分光,同轴反射式
位深
12bit
电控样品台 左右两侧光源,各100W
硬件接口 USB 3.1
软件 perClass mira 数据采集和分析软件
平台尺⼨ 700*432*761mm
样品台尺⼨ 400*250mm
扫描速度 10mm/s~70mm/s
系统重量 ≤17kg
操作温度 0至50℃
存储温度 -10 至 60℃




首页
销售热线
短信
联系