MV.C VNIR 机器视觉高光谱成像系统是美国 Headwall 公司在收购荷兰 perClas s公司后,结合自身多年在 Offner 高光谱成像仪设计制造技术优势和 perClas s在高光谱机器学习算法和应用软件开发优势而研制的一套Turnkey机器视觉高光谱数据采集和分析平台。
用MV.C VNIR 工作的光谱范围为 400-1000nm ,340个光谱波段,1020 个空间像素,最⼤帧率可达到 300Hz 。MV.C VNIR 系统配备有⻧素灯光源的 perClass Stage 推扫平台,安装拆卸简易,方便携带。用户可根据不同应用场景,在实验室快速搭建整套系统。通过配套的 perClass mira 数据采集和分析软件,直接控制推扫平台的移动和⾼光谱成像仪的数据采集操作。已采集的样本数据可⽅便划分为训练集和测试集,利用 perClass mira 软件中的光谱分类和回归分析功能进行建模,生成的模型可直接用于数据的实时在线分析。
关于机器视觉高光谱技术的应用可点击以下视频了解:
高光谱实时分类技术在机器视觉中的应用与发展
https://www.bilibili.com/video/BV1yk4y1s7RM/?vd_source=c76589e1835a8fd6a8b6c0fcb5525585
Turn-Key 解决方案,无需复杂的平台搭建
Headwall Offner 全息凸面反射光栅分光技术
交互式模型训练训练软件,无需专业背景知识
兼容perClass Mira软件,可直接控制硬件数据采集
支持载入自定义模型,实时在线分类
光谱范围 | 400-1000nm |
空间像素数 | 1020 |
光谱通道数 | 340 |
光谱采样率 | 1.75nm/pixel |
数值孔径 | F/2.5 |
光学设计 |
Offner全息反射光栅分光,同轴反射式 |
位深 |
12bit |
电控样品台 | 左右两侧光源,各100W |
硬件接口 | USB 3.1 |
软件 | perClass mira 数据采集和分析软件 |
平台尺⼨ | 700*432*761mm |
样品台尺⼨ | 400*250mm |
扫描速度 | 10mm/s~70mm/s |
系统重量 | ≤17kg |
操作温度 | 0至50℃ |
存储温度 | -10 至 60℃ |