Snapscan SWIR 凝视型高光谱成像仪

Snapscan SWIR 系列便携式凝视型高光谱成像仪，是世界上首款将像元镀膜技术与InGaAs红外探测器技术相结合的高光谱成像仪。集成的线阵列镀膜方式的高光谱感光元件使其能够在1100-1650nm的波长范围内，连续采集100多个通道的光谱数据。通过内部集成的微型压电位移台对视场内的目标进行扫描拍摄，相比于传统高光谱成像仪通过狭缝和光栅进行分光的方式，不仅光通量高，无需推扫平台，而且数据采集速度更快（仅需几秒），另外主动制冷模块的使用和TDI（时间延迟积分）和HDR（高动态）数据采集模式的支持，保证了整套系统可采集高质量，高信噪比的数据。

主要特点：

1. 基于像元镀膜线扫型芯片的内部推扫高光谱成像，无需狭缝和光栅
2. 没有狭缝的限制，通光量更高
3. 空间像素分辨率高，一次推扫最大可实现1200*640的短波红外高光谱数据采集
4. 稳定牢靠，小巧轻便，便于携带

基本参数：